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La caratterizzazione morfologica di materiali compositi/ polimeri e loro superfici di frattura mediante microscopio elettronico a scansione con sistema di microanalisi (EDS) consente oltre alla classica identificazione degli elementi sulla superficie di osservazione, anche una mappatura degli stessi elementi, per identificare eventuali domini a composizione diversa.
DOTAZIONI SPECIFICHE DEL CENTRO :
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Microscopio ottico stereoscopico
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Microscopio a luce polarizzata
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Microscopio elettronico a scansione con sistema di microanalisi EDS (Tescan)
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FT-IR (Thermo, mod. Nexus)
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