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Ate - test funzionali parametrici

Qmax con le sue metodologie innovative nell’ ingegneria per il test di schede elettroniche ha anticipato imponendo uno standard.
La Qmax propone soluzioni di test basate sulle reali necessità dell’ industria. Qmax si è guadagnata una posizione di rilievo sul mercato internazionale installando soluzioni di test per l’industria Militare e Civile. Le piattaforme hardware e software sono applicabili su schede di ultima generazione con alto livello di integrazione. I tester Qmax includono in una sola piattaforma il Test Funzionale, Parametrico, JTAG Boundary Scan, In-Circuit Funzionale. L’alta qualità hardware/software, un supporto tecnico eccellente ed un prezzo molto competitivo sono una garanzia per un sicuro investimento